線(xiàn)性快速溫變?cè)囼?yàn)箱是航空、通訊、汽車(chē)、光電、電子、家電、科研等領(lǐng)域的試驗(yàn)設(shè)備，用于試驗(yàn)和測(cè)試確定工業(yè)產(chǎn)品及材料進(jìn)行濕熱、高溫、低溫交變或恒定試驗(yàn)的模擬環(huán)境變化試驗(yàn)各式各樣的產(chǎn)品參數(shù)及性能變化。

線(xiàn)性快速溫變?cè)囼?yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

GJB/150.3A-2009  裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB/150.4A-2009  裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)

GB/T 5170.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

GB/T 2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）

GJB/150.9A-2009  裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件